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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現粒徑、濃度及Zeta電位等多參數測量。該儀器利用激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，捕捉納米顆粒在液體中的布朗運動軌跡。通過分析顆粒的擴散系數，結合斯托克斯-愛因斯坦方程，計算其流體力學直徑，精度可達4nm。同時，支持熒光檢測功能，可識別熒光標記顆粒，實現多參數同步分析。以下是納米顆粒跟蹤分析儀其主要結構特點：一、高精度光學系統：實現單顆粒可視化光...

激光粒度分析儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒測量儀器，廣泛應用于材料科學、工業生產及環境監測等領域。其核心原理是：當激光束照射到顆粒時，會發生衍射和散射現象，散射光的強度與角度分布與顆粒大小密切相關。通過測量不同角度的散射光信號，并利用Mie散射理論或Furanhofer衍射理論進行計算，可精確推導出顆粒的粒徑分布。在應用領域方面，激光粒度分析儀發揮著重要作用。在材料科學中，它用于分析金屬粉末、陶瓷原料及納米顆粒的粒度分布，優化材料性能；在工業生產中，它助力涂料、化工及水泥...

X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線激發物質產生特征熒光的分析儀器，通過測量熒光波長和強度實現元素的定性與定量分析。其核心原理是：高能X射線轟擊樣品時，原子內層電子被擊出形成空穴，外層電子躍遷填補時釋放特征X射線熒光，不同元素的熒光波長具有唯1性，構成元素分析的“指紋”特征。該儀器具有非破壞性、快速多元素分析的優勢。檢測范圍覆蓋原子序數11（鈉）至92（鈾）的元素，含量檢測下限達ppb級，可分析固體、粉末、液體及薄膜樣品。例如，在環境監測中，可快速檢測土壤、水體中的重金...

納米粒度電位儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑、Zeta電位等參數的分析儀器，在化學、材料科學、生物醫藥等領域應用廣泛。該儀器主要基于動態光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態光散射（SLS）技術工作。動態光散射通過檢測顆粒布朗運動速度計算粒徑分布；電泳光散射測量顆粒在外加電場中的遷移率，轉化為Zeta電位值；靜態光散射則利用散射光強直接測定高分子物質的絕對分子量及第二維利系數。其粒徑檢測范圍通常覆蓋0.3nm至10μm，支持低至12μL的微量樣品檢測，并具備自動化...

X射線熒光光譜儀是一種用于快速、無損分析物質元素組成的先進儀器，在眾多領域發揮著關鍵作用。其工作原理基于X射線熒光現象。當高能X射線照射樣品時，樣品中的原子內層電子被激發，產生空穴。外層電子躍遷填補空穴，同時釋放出具有特定能量的特征X射線熒光。通過探測和分析這些熒光的能量和強度，就能確定樣品中存在的元素種類及其含量。XRF具有諸多顯著優勢。它屬于非破壞性分析技術，無需對樣品進行復雜的預處理，能保持樣品的原始狀態，對于珍貴文物、考古樣品等的分析尤為適用。分析速度快，可在短時間內...